Ученые из ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН, МИФИ, а также исследовательских лабораторий Samsung разработали новую методику оценки эксплуатационной стабильности полупроводниковых материалов, используемых в органических светоизлучающих устройствах (OLED). Разработанная исследователями технология позволяет направленно отбирать вещества, наиболее устойчивые в условиях работы OLED, на основе их структурной формулы и квантовохимических расчетов, а не методом проб и ошибок. Исследование поддержано грантом Российского научного фонда. Его результаты были представлены в журнале The Journal of Physical Chemistry C.
Реклама